Xstress Studio

Sterowanie działaniem sprzetu: detektory, silniki DC, zasilacz, przesłona, funkcje zabezpieczeń, napięcie i natężenie prądu itp
Automatyczna kalibracja przy wykorzystaniu wzorców w celu ustawienia odległości od dyfraktometru do badanego elementu
Zarządzanie projektami do pomiaru rozłożenia głębokości oraz wszelkiego rodzaju pomiarów mapujących
Funkcje biblioteki parametrów materiałów
Kalkulator teoretycznej pozycji szczytowej danego materiału i wartości promieniowania
Tryby pomiarowe zmodyfikowany χ oraz Ω
Określanie zmiany wartości szczytowej najbardziej znanymi metodami jak np. korelacja krzyżowa lub metoda dopasowania wartości szczytowej
Dopasowanie wartości szczytowej z 10 różnymi funkcjami: Gauss, Lorentz, Zmodyfikowany Lorentz, Pośredni Lorentz, Pearson VII, Rozdzielony Pearson VII, Pseudo-Voigt, Rozdzielony Pseudo-Voigt, Voigt and Rozdzielony Voigt
Obliczenia tensora naprężeń oraz naprężeń głównych
Format plików JSON
W zgodności z normą EN 15305:2008
Metody obliczeń
- Przygotowanie danych
- Wartości szczytowe
- Przesunięcie wartości szczytowych (określenie pozycji linii dyfrakcji)
- Naprężenia normalne i ścinające
- Tensor naprężeń
- Naprężenia główne
- Statystyka
- Profil głębokości