System X-Y Xstress

Ta opcja dla dyfraktometrów Xstress G2, G2R oraz G3 pozwala na automatyczne mapowanie powierzchni przy zastosowaniu menadżera projektów zintegrowanego w oprogramowaniu XTronic.

Wymiary Systemu X-Y

• Głębokość 690 mm
• Szerokość 690 mm
• Wysokość 168 mm
• Waga 27 kg

Wymiary kontrolera logicznego

• Głębokość 480 mm
• Szerokość 360 mm
• Wysokość 160 mm
• Waga 6 kg

Wymagania zasilania

• Napięcie 100–240 V AC, 1-fazowe
• Częstotliwość 50–60 Hz
• Moc 600 VA

Dokładność Systemu X-Y

• Dokładność bezwzględna ±0.1 mm